為HL-C2系列開發了的HDLC-CMOS傳感器。通過的CMOS工藝技術和將的信號處理電路集成于受光元件芯片上的“系統芯片”化技術，獲得了高密度的受光元件和接近極限的處理速度。
突破性地實現了一般激光位移傳感器難以達到的高分辨率和高速度。
HDLC：High Density Linear Cell

全新設計的HDLC-CMOS傳感器的高分辨率透鏡。采用本公司的光學仿真技術，將像差降低到zui小限度。
可將任何角度的光線在受光部以極小點成像，實現了更高的精度。
HiR：High Resolution

的光學配置和光圈結構，實現了發射強度接近理想的近似正態分布的高品質激光。另外，通過在投光量調整功能中采用新的算法，可以瞬時跟蹤受光量的變化，確保投光狀態始終保持*。
MSGB：Micro Spot Gaussian Beam

配備的算法，可以在達到高精度的同時實現高速度。 所有信號都經過數字化高速處理。

■受檢工件容許傾斜的范圍更寬
與以往相比，對傾斜的容許度提高了1.5倍，即使測量時工件發生變動，也能輕松檢測。
[HL-C203BE(-MK)的情況]

■省空間的小型檢測頭
小型檢測頭，與本公司以往產品相比，體積比下降了約23%，可以將安裝空間減小到極限程度。
[HL-C203BE(-MK)的情況]

■條件設定功能
檢測頭功能及輸出條件等顯示在菜單上，可按順序簡單設定。

■測量數據顯示功能
可以簡便地使傳感器安裝時的設定及投光量設定*化。還可在面板上進行保持及計時等輸入操作。白色背光燈提高顯示屏的可視性。

■主界面

可確認各種測定條件和狀態、設定的界面，主監控器的Top菜單。
2臺檢測頭有兩個輸出，可以各自選擇Tab和設定。

設定狀態的界面左下方顯示圖例。特別是檢測透明物體時，可以清晰地從視覺上辨別檢測面。

可在控制器中記錄16個設定條件，并以一覽表的形式顯示。可確認在多生產線上的工件的設定條件、在比較和檢查的設定時也相當便利。

■顯示設定值
顯示設定值和各端子的的輸出狀態。測量中發生警報，顯示提示警報。
待機和重置等，也可通過界面上的按鈕實現。

■受光量波形顯示
受光量、受光元件以元件單元表示。同時zui大受光量的元件單元以數值顯示、檢測頭設置時確認簡便。

■緩沖器顯示
數據緩沖器連接功能、可讀取在控制器中存儲的數據、顯示波形和數據。此外、數據存儲的方法和存儲周期、存儲數據量等都可在界面中設置。
新追加功能、以測量工件的邊緣和形狀的變化點為觸發器存儲數據。無需界面操作和外部瞬間輸入，有效的處理數據。